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碳化硅(SiC)器件動態參數測試系統

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陜西開爾文測控技術有限公司

  • 聯系人:杜浩晨
  • 官網地址:www.kewtest.cn
  • 經營模式:制造商
  • 主營產品:IGBT測試儀,IGBT測試系統,半導體器件測試儀,軌道交通IGBT測試儀
  • 所在地:陜西省#陜西省陜西省西安市高新區工業園發展大道26號
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產品詳情

Product details

碳化硅(SiC)器件動態參數測試系統本測試系統具有高測試精度、高靈敏度、高可靠性、高安全性的特點,實現碳化硅二極管、MOSFET器件開通時間、關斷時間、快恢復二極管反向恢復時間、反向電流及反向恢復電荷等測試,通過計算機控制,示波器采集波形,由計算機處理數據并顯示測試結果。 主要技術參數: 測試產品:SiC FRD,MOSFET(兼容Si基產品) 測試能力: a、開關時間測試 測試條件:ID:1A~1000A,VDS:5V~3500V,VGS:-10V~20V,Rg:手動可調,阻性,感性負載 可切換 測試參數:td(on)\tr\td(off)\tf:.01nS-200nS,Eon\Eoff:10uJ~100mJ B、反向恢復特性測試 測試條件:IF:1A~1000A,VR:5V~3500V, di/dt:50A/us~10000A/us 測試參數:trr:0.1nS-200nS,QC:1nC~1uC,lrm:1A~200A,Erec:0.1uJ~1mJ C、短路電流測試 測試條件:Pulse width:1us~100us,VDS:5V~3500V 測試參數:Peak ID:10A~1000A,Delta Vds:10V~200V碳化硅(SiC)器件動態參數測試系統

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  • 聯系人姓名:杜浩晨
  • 聯系人職位:經理
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